/ INDUSTRY · 服務領域

▣ 智慧顯示器
Smart Display

從 TFT-LCD、OLED 到 Mini/Micro-LED — 像素級量測與 AI 缺陷判別。

From TFT-LCD and OLED to Mini/Micro-LED — pixel-level metrology and AI defect classification.

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/ CONTEXT · 產業背景

產業現況

智慧顯示器產業面臨高解析度（8K+）、HDR、Mini/Micro-LED 巨量轉移、可撓式 OLED 等多技術並陳。任一像素缺陷在百萬 dpi 級的面板上都是致命的良率殺手。

The smart-display industry juggles 8K+ resolution, HDR, Mini/Micro-LED mass transfer, and flexible OLED. A single pixel defect on a million-dpi panel is a yield killer.

/ PAIN · 量測痛點

三大關鍵挑戰

/ 01

像素級缺陷檢測在傳統 AOI 容易漏判（dark spot, bright dot, mura, 短路）

Sub-pixel defects (dark/bright dots, mura, shorts) escape conventional AOI.

/ 02

色度均勻性 (uniformity) 與色座標 (CIE x,y) 量測需符合 IEC 規範

Chromatic uniformity and CIE (x, y) measurement to IEC standards.

/ 03

修補製程（雷射 ablation / repair）需要快速精準的座標回饋

Laser repair/ablation requires fast, precise coordinate feedback.

/ SOLUTION · 解決方案

LiQung 怎麼幫您

/ S1

世界級 EL / PL / IR 影像量測系統（P1, P3）

World-class EL/PL/IR imaging metrology (P1, P3).

/ S2

AI 視覺檢測 (P6) — Mura/dot defect 分類準確率 ≥98%、推論 <120ms

AI Vision Inspection (P6) — Mura/dot classification ≥98% @ <120ms inference.

/ S3

雷射維修 / 修補系統 (P5) 與 SaaS 良率儀表板 (P7+P8)

Laser repair/modification (P5) and yield SaaS dashboard (P7+P8).

/ STACK · 對應產品 / 服務

本領域常用組合

產品線 Products

  • P1 · 光學量測
  • P3 · 顯微影像
  • P5 · 雷射維修
  • P6 · AI 視覺檢測
  • P7 · 客製化 SaaS
  • P8 · 雲端監控

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客製服務 Services

  • S01 · 量測腳本自動化
  • S03 · AI 模型訓練
  • S04 · SaaS 平台開發
  • S05 · 產線整合 API

完整服務模組 →

/ METRICS · 適用標準與預期指標

關鍵數字 + 標準

≥98%
Mura 缺陷分類準確率
<120ms
邊緣推論時間
8K+
支援像素密度
4σ
色度量測重現性
適用標準 Standards：
  • IEC 61747
  • ISO/IEC 17025
  • CIE 1931
  • JEITA

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